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स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप (एसईएम)
एसईएम में छवि रूपण नमूने के पदार्थों के साथ एक इलेक्ट्रॉन बीम की पारस्परिकता के कारण उत्पन्न माध्यमिक इलेक्ट्रॉनों / बैक स्कैटर्ड इलेक्ट्रॉनों के संग्रह के माध्यम से पूरा किया जाता है। इस पारस्परिकता के दौरान नमूने से उत्पन्न विशेषता एक्स-किरणों का प्रयोग तात्विक विश्लेषण के लिए किया जाता है।
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उपकरण के विवरण
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मुख्य विशेषताएं
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अनुप्रयोग क्षेत्र
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मडल :ईवीओ 18 रिसर्च
विनिर्माता :कार्ल जीसस, यूके
वियोजन : एस ई मोड में 15 नैमी i
संचालन पैरामीटर : 0.2 से 30 कि वाट त्वरण वोल्टेज और 0.5 पीए से 5 μA जांच करंट |
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